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| 型号：GeminiSEM 300 |
| 详细描述 |
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主要特点：
►独树一帜的镜筒内能量选择背散射探测器，在低电压下也可轻松地获得高质量的样品材料衬度图像
►NanoVP技术让您可以使用镜筒内Inlens二次电子探测器对要求苛刻的不导电样品进行高灵敏度、高分辨成像
►分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV
►加速电压：0.02 - 30 kV
►探针电流：3 pA - 20 nA（100 nA选配）
►低真空范围： 10-500Pa
►存储分辨率：32k × 24k 像素
►放大倍率：12 – 2,000,000×
►样品台：5轴优中心全自动，X=130mm、Y=130 mm、Z=50 mm、T=-30o-70o、R=360o 连续
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