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| 型号：Sigma 300 |
| 详细描述 |
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主要特点：
►用于清晰成像的灵活探测：
利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息
利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像
在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像
►自动化加速工作流程
►高级分析型显微镜：获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果
►分辨率：1.0nm@30kV STEM 、1.0nm @15 kV 、1.8nm @1kV
►最大扫描速度：50 ns/像素
►加速电压：0.02 – 30 kV
►放大倍数：10-1,000,000×
►探针电流： 3pA～20nA（100nA选配）
►存储分辨率：32k x 24k 像素
►低真空范围： 10-133Pa
►样品台：5轴优中心全自动，X=125mm、Y=125 mm、Z=50 mm、T=-10o-90o、R=360o 连续
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